《 第30回 インターフェックス ジャパン 》
先端技術を先端で支える
アドバンテストは最先端の計測技術を、半導体の開発・製造をはじめ、エレクトロニクス、ヘルスケア、医療など幅広い分野に展開し、お客様が求める真のソリューションを提案します。
展示の見どころ
テラヘルツ・センシングによる新提案:医薬品の連続生産、PATをサポート
テラヘルツ・センシングによる新提案:医薬品の連続生産、PATをサポート
アドバンテスト独自のテラヘルツ技術による、乾式造粒工程等における造粒密度および、コーティング工程における膜厚の非破壊解析ソリューションを提案します。
テラヘルツ光サンプリング・システム「TAS7500TS」は、最高1msecの超高速テラヘルツ波解析機能を備え、インラインでの測定に適用可能なスループットを実現します。ファイバ・ピグテール型のテラヘルツ発生・検出モジュールにより、測定ニーズに合わせた光学系の自由な配置が可能な解析プラットフォームです。
コードが消えた!
無線データロガー「AirLogger™ WM2000シリーズ」
無線データロガー「AirLogger™ WM2000シリーズ」
小型の測定ユニットから、USB型のPC通信ユニット経由でパソコンへ無線で測定データを送信。計測業界に新風を巻き起こした無線データロガー「AirLogger™」の新シリーズとして、「温度」に加え「電圧」「ひずみ」の計測も可能とした「AirLogger™ WM2000」シリーズを出展します。従来困難であった回転体や動体の測定にも対応。また、大小さまざまな空間や、遮閉空間など、多様なフィールドで活躍します。
展示会詳細
展示会名 | 第30回 インターフェックス ジャパン |
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会 期 | 2017年6月28日(水)~ 30日(金) |
会 場 | 東京ビッグサイト |
展示会カテゴリー | 電気・電子・磁気・半導体 |
住 所 | 〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1 |
主催者 | リード エグジビション ジャパン株式会社 |
URL | http://www.interphex.jp |
備 考 |